A Cascade Open-Short-Thru (COST) De-Embedding Method for Microwave On-Wafer Characterization and Automatic Measurement

• Autores: K. M. Chen, A. S. Peng, Y. M. Teng, M. H. Cho, G. W. Huang, C. S. Chiu
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 5, 2005, pág. 845
• Idioma: inglés
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