Two-Dimensional Cyclic Bias Device Simulator and Its Application to GaAs HJFET Pulse Pattern Effect Analysis

• Autores: Y. Takahashi, K. Kunihiro, Y. Ohno
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 82, Nº 6, 1999, págs. 917-923
• Idioma: inglés
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