Analyzing and Reducing the Impact of Shorter Data Retention Time on the Performance of Merged DRAM/Logic LSIs

• Autores: K. Murakami, K. Kai, A. Inoue, T. Ohsawa
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 9, 1998, pág. 1448
• Idioma: inglés
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