Device-Deviation Tolerant Elastic-Vt CMOS Circuits with Fine-Grain Power Control Capability

• Autores: I. Sakai, M. Yamashina, M. Mizuno, H. Abiko, K. Furuta
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 9, 1998, pág. 1463
• Idioma: inglés
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