Ray Tracing Analysis of Large-Scale Random Rough Surface Scattering and Delay Spread

• Autores: K. Y. Yoon, M. Tateiba, K. Uchida
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 2, 2001, págs. 267-270
• Idioma: inglés
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