Statistical Gate-Delay Modeling with Intra-Gate Variability

• Autores: Kenichi Okada, Kento Yamaoka, Hidetoshi Onodera
• Localización: IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 86, Nº 12, 2003, págs. 2914-2922
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)