Hierarchical Fault Tracing for VLSIs with Bi-directional Busses from CAD Layout Data in the CAD-Linked EB Test System

• Autores: Kenta Miura, K. Nakamae, H. Fujioka
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 80, Nº 3, 1997, págs. 498-502
• Idioma: inglés
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