Investigation of novel attributes of single halo dual-material double gate MOSFETs for analog/RF applications.

• Autores: N. Mohankumar, B. Syamal, C.K. Sarkar
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1491-1497
• Idioma: inglés
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