New concepts of worst-case delay and yield estimation in asynchronous VLSI circuits.

• Autores: M. Sokolovic, V. Litovski, M. Zwolinski
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 2, 2009, págs. 186-198
• Idioma: inglés
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