Coupled electro-thermal simulation of a DC/DC converter.

• Autores: M. Vellvehi, X. Jordà, Philippe Godignon, Clemente Ferrer Roselló, J. Millán
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 12, 2007, págs. 2114-2121
• Idioma: inglés
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