Effects of device aging on microelectronics radiation response and reliability.

• Autores: D.M. Fleetwood, M.P. Rodgers, L. Tsetseris, X.J. Zhou, I. Batyrev, S. Wang, R.D. Schrimpf, S.T. Pantelides
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 7, 2007, págs. 1075-1085
• Idioma: inglés
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