VSP ¿ A gate stack analyzer.

• Autores: M. Karner, A. Gehring, M. Wagner, R. Entner, S. Holzer, W. Goes, M. Vasicek, T. Grasser, H. Kosina, S. Selberherr
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 704-708
• Idioma: inglés
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