Defects induced anomalous breakdown kinetics in Pr2O3 by micro- and nano-characterization.

• Autores: P. Fiorenza, R. Lo Nigro, V. Raineri, S. Lombardo, R.G. Toro, G. Malandrino, I.L. Fragalà
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 640-644
• Idioma: inglés
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