Advanced numerical prototyping methods in modern engineering applications ¿ Optimisation for micro-electronic package reliability.

• Autores: A. Wymyslowski, W.D. van Driel, J. van de Peer, N. Tzannetakis, G.Q. Zhang
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 2-3, 2007, págs. 280-289
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)