Cyclic bending reliability of wafer-level chip-scale packages.

• Autores: Y.-S. Lai, T.H. Wang, T.H. Tsai, M.-H.R. Jen
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 1, 2007, págs. 111-117
• Idioma: inglés
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