Fault Modeling and Simulation of Power Supply Voltage Transients in Digital Systems on a Chip

• Autores: D. Barros Júnior, Marcial Jesús Rodriguez Irago
• Localización: Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 4, 2005, págs. 349-363
• Idioma: inglés
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