Redundancy modelling and array yield analysis for repairable embedded memories

• Autores: A. Sehgal, A. Dubey, E. J. Marinissen
• Localización: IEE Proceedings: Computers and digital techniques, ISSN 1350-2387, Vol. 152, Nº 1, 2005, págs. 97-106
• Idioma: inglés
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