págs. 5-18
págs. 19-26
Aplicación del Método de los Elementos Finitos en la Simulación de Cimentaciones Superficiales
Julio César Leal Vaca, Salvador Botello Rionda, Humberto Esqueda Oliva
págs. 29-40
Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs by Acousto-Optic Reflectance
Igor V. Ostrovskii, O.G. Ibarra-Manzano, Gennadyi N. Burlak, E. Alvarado-Méndez, G. Cerda Villicaña, R. Rojas-Laguna, J González Barbosa, M. Torres Cisneros, Svetlana V. Koshevaya, Rafael Guzmán Cabrera, Luz Antonio Aguilera Cortés, R. Castro Sánchez, José Amparo Andrade-Lucio, Julián Moisés Estudillo Ayala, J.G. Aviña Cervantes
págs. 42-48
págs. 50-55
Héctor Quiroz Castelán, Migdalia Díaz Vargas, Isela Molina Estudillo, Judith García Rodríguez, Edgar E. Elizalde Arriaga
págs. 57-63
María Eugenia Garay Sevilla, Francisco José Díaz Cisneros, José F. Henríquez Bielma, Leticia Soto Franco, Juan Manuel Malacara Hernández
págs. 66-82
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados