pág. 571
págs. 573-574
Using RT Level Component Descriptions for Single Stuck-at Hierarchical Fault Simulation
M. Lavasani, Z. Navabi, F. Lombardi, S. Mirkhani
págs. 575-589
págs. 591-609
M. Goessel, Krishnendu Chakrabarty
págs. 611-622
págs. 623-638
Scan Test Strategy for Asynchronous-Synchronous Interfaces
O. Petre, H. G. Kerkhoff
págs. 639-645
págs. 647-660
págs. 661-665
L. Li, Krishnendu Chakrabarty
págs. 667-670
págs. 671-681
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados