Se proponen un conjunto de métodos para seleccionar centros críticos y muestras críticas, basadas en técnicas de agrupamiento y SM, Se desarrolla un nuevo procedimiento de selección de centros críticos basado en "pares opuestos más cercanos", varios métodos de selección de muestras caracterizados por el criterio de selección y el número de muestras a seleccionar, un nuevo procedimiento para la determinación del parámetro de dispersión de las Gaussianas, un análisis de las prestaciones en función de los parámetros de diseño, un procedimiento para construir clasificadores RBF-SC.
Se analiza el comportamiento de estos clasificadores RBF-SM construidos a partir de distintos métodos de selección de muestras.
© 2001-2026 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados