El ruido de conmutación generado por los circuitos digitales representa un problema importante que a menudolimita las prestaciones de los circuitos integradosdigitales y mixtos. éste ruido de conmutación estápresente en los terminales de alimentación internos delos circuitos y es debido a la inductancia parásita quepresentan los terminales y conductores del encapsulado.Estos componentes inductivos transforman en ruido detensión la derivada temporal de los pulsos de corrientedemandados por la lógica al conmutar. Al estar presenteen los terminales de alimentación puede afectar acualquier zona del circuito. Además, dado que losterminales de alimentación se utilizan para polarizar elsubstrato o el pozo de los CI semiconductores el ruido esinyectado en dicho substrato y puede propagarse por él,afectando incluso a circuitos que no comparten la mismaalimentación que los circuitos digitales generadores delruido.En los últimos años se han propuesto diferentesalternativas para solucionar este problema, la mayoría deellas centradas en dos aspectos. El primero de ellosconsiste en introducir condensadores de desacoplo dentrodel encapsulado y/o reducir el valor de la inductanciadel encapsulado a base de incrementar el número determinales dedicados a alimentaciones o a base deutilizar técnicas de encapsulado avanzadas. El segundo secentra en el diseño de circuitos de salida que generenbajos niveles de ruido, pues los condensadores internosde desacoplo no reducen el ruido generado por estoscircuitos. En este trabajo de tesis se analizan todasestas técnicas y se realiza un estudio más detallado delruido generado internamente. Se proponen técnicas dereducción del ruido de conmutación en todos los aspectos:distribución de la alimentación, diseño lógico y diseñode los circuitos de salida de los CI CMOS, y se presentanresultados experimentales medidos sobre prototiposfabricados que
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