Modelos estructurales y cinetica de cristalizacion de aleaciones amorfas semiconductoras ternarias de as-ge-te

• Autores: Rufino Angel Ligero Giménez
• Lectura: En la Universidad de Cádiz ( España ) en 1988
• Idioma: español
• Tribunal Calificador de la Tesis: Rafael Márquez Delgado (presid.), Manuel Antonio Caballero López-Lendínez (secret.), Antonio Bernalte Miralles (voc.), Francisco Sanz Ruiz (voc.), Alejandro Conde Amiano (voc.)
• Materias:
  • Física
    • Física del estado sólido
      • Estados no cristalinos
• Texto completo no disponible (Saber más ...)
• Resumen

  • Mediante tecnicas de difraccion de rayos-x ( del mo), se efectua un estudio de tres aleaciones vitreas fabricadas por procedimiento masico, que permite obtener las funciones de distribucion radial correspondientes. Con los datos derivados del analisis de las mismas, se proponen unos modelos de estructura para ellas, elaborados mediante el metodo de metropoli-montecarlo. De los modelos obtenidos se deducen valores estructurales, tales como distancias de enlace, angulos de enlace y coordinacion resultante. Utilizando tecnicas de calorimetria de barrido diferencial, se estudia la cinetica de cristalizacion de las aleaciones, en el modelo teorico de johnson-mel-aurami, determinando los parametros correspondientes, para cada uno de los compuestos. Son establecidos criterios para evaluar el grado de dificultad en la cristalizacion del ternario, asi como una correlacion energetica entre la temperatura de transicion vitrea y la estructura propuesta, formulando una relacion lineal entre ambas, caracterica del ternario amorfo.