Combinación de técnicas de microscopía en estudio de materiales

• Autores: Eloy Anguiano Rey
• Directores de la Tesis: Miguel Aguilar Gutiérrez (dir. tes.)
• Lectura: En la Universidad Autónoma de Madrid ( España ) en 1994
• Idioma: español
• Tribunal Calificador de la Tesis: Francisco Jaque Rechea (presid.), Sebastián Vieira Díaz (voc.), Francisco Javier Piqueras de Noriega (voc.), Gloria Platero Coello (voc.)
• Materias:
  • Física
    • Electrónica
      • Microscopia electrónica
    • Física del estado sólido
      • Propiedades magnéticas
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• Resumen

  • SE HA REALIZADO UN DESARROLLO DE DOS SISTEMAS DE ADQUISICION, TANTO PARA MICROSCOPIA ELECTRONICA COMO PARA MICROSCOPIA DE EFECTO TUNEL EN UN SISTEMA RISC EN UNIX.

    ASI MISMO, SE HA DESARROLLADO UN SISTEMA DE TRATAMIENTO Y ANALISIS DE DATOS BAJO ESTE MISMO SISTEMA.

    SE HAN REALIZADO UNA SERIE DE TRABAJOS TEORICOS ENCAMINADOS A DETERMINAR LA SITUACION DE ESTABILIDAD DE MICROSCOPIOS DE EFECTO TUNEL Y TECNICAS RELACIONADAS.

    POR OTRO LADO, SE HAN OBTENIDOS METODOS DE ANALISIS DE LA DIMENSION FRACTAL DE SUPERFICIES, UTILES PARA DETERMINAR LA DIMENSION FRACTAL DE SUPERFICIES REALES OBTENIDAS POR MICROSCOPIA DE EFECTO TUNEL Y TECNICAS RELACIONADAS.

    COMO APLICACION DEL ESTUDIO DE LA DIMENSION FRACTAL DE SUPERFICIES SE HAN ESTUDIADO LAMINAS DELGADAS DE COP AMORFO, RELACIONANDO EL COMPORTAMIENTO DE LA DIMENSION FRACTAL DE LA SUPERFICIE CON EL COMPORTAMIENTO DE LOS DOMINIOS MAGNETICOS EN SUPERFICIE.

    TAMBIEN SE HA OBTENIDO POR PRIMERA VEZ, RESOLUCION ATOMICA EN ESTE TIPO DE AMORFOS, ASI COMO EL COMPORTAMIENTO EN EL CRECIMIENTO DE LAMINAS DE CDTE.