Caracterización óptica de capas de GaAs/Si crecidas por epitaxia lateral dirigida

• Autores: Angel Miguel Ardila Vargas
• Directores de la Tesis: Óscar Martínez Sacristán (dir. tes.)
• Lectura: En la Universidad de Valladolid ( España ) en 2002
• Idioma: español
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