Estudio por microscopía de efecto túnel y microscopía electrónica de estructuras submicrométricas
- Autores: Agustina Asenjo Barahona
- Directores de la Tesis: Arturo M. Baró (dir. tes.)
- Lectura: En la Universidad Autónoma de Madrid ( España ) en 1997
- Idioma: español
- Tribunal Calificador de la Tesis: Francisco Javier Piqueras de Noriega (presid.), Juan José Sáenz Gutiérrez (secret.), Nicolás García García (voc.), Ricardo García García (voc.), Carmen Ocal Garcia (voc.)
- Materias:
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
- Resumen
El trabajo de esta tesis se centra en el desarrollo de un microscopio de efecto tunel, stm (scanning tunneling microscope), combinado con un electronico comercial, sem (scanning electron microscope), y las distintas aplicaciones de este sistema. Las caracteristicas mas destacables del stm diseñado, ademas de su resolucion (0.1 a en la direccion vertical y 0.01 na en corriente), son su reducido tamaño y la posibilidad de elegir la zona de estudio utilizando un posicionamiento inercial.
Por sus dimensiones, es posible insertar y extraer el stm a traves de la camara de transferencia del sem, disminuyendo asi el ritmo de contaminacion de la muestra y mejorando el vacio final alcanzado. El estudio de una misma zona utilizando ambas tecnicas (stm y sem) permite la correlacion de datos. La aplicacion mas apropiada ha sido la del estudio de los procesos asociados al calentamiento por efecto joule de pequeñas muestras (1umx1umx4um): Difusion, recristalizacion, electromigracion y facetado, y su importancia relativa al variar la temperatura y la densidad de corriente.
Tambien se ha demostrado la capacidad del stm para provocar cambios a nivel atomico sobre wse2. Las modificaciones obtenidas han sido de dos tipos:
Localizadas y extensas. Las estructuras extensas pueden explicarse por interacciones entre punta y muestra. Sin embargo, los datos espectroscopicos revelan que su comportamiento coincide con el de defectos situados en capas enterradas.
