Determinación estructural de sistemas adsorbidos sobre substratos semiconductores mediante la difracción de fotoelectrones

• Autores: Nicolás Franco Cerame
• Directores de la Tesis: María Carmen Asensio Ariño (dir. tes.)
• Lectura: En la Universidad Autónoma de Madrid ( España ) en 1998
• Idioma: español
• Tribunal Calificador de la Tesis: Salvador Salvador Ferrer (presid.), Emilio Moran (secret.), Federico Federico Soria (voc.), Juan Manuel Rojo (voc.), José Manuel Calleja Pardo (voc.)
• Materias:
  • Física
    • Física del estado sólido
      • Semiconductores
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• Resumen

  • Se presentan diferentes estudios, tanto teóricos como experimentales, de varios sistemas adsorbidos por difracción de fotoelectrones (PhD). Se incluye un estudio teórico de los métodos directos y de sus posibilidades para el análisis de los datos por PhD.

    Los sistemas experimentalmente analizados son, por un lado, la adsorción de Sb sobre GaAs (110) - p (1 x 1), por otro la adsorción de agua y amoniaco sobre Si (100) (2 x 1), y finalmente la adsorción de amoniaco sobre el Si (111) (7 x 7). Estos estudios incluyen la cuantificación de los parámetros estructurales en el entorno del emisor, por via de los métodos directos, así como por el método de prueba y error.