En este trabajo se describen las tecnicas -algunas como las del sistema de exploracion automatico de diseño propio- empleadas en la medida de las intensidades integradas de rayos x difractadas por tres polos (111) (200) y (220) de tres monocristales de aluminio de alta pureza (99 999%) en tres estados recocido y laminados en frio con reducciones del 21 y 45%; asi como aquellas otras tecnicas de microscopia electronica utilizadas en la determinacion de las parametros subestructurales. Los resultados asi obtenidos se estructuran con vistas a una detenida comprobacion de los modelos de cristal mosaico disponibles en la bibliografia. Los valores de las intensidades integradas deducidos de los modelos de extincion primaria en cristales mosaicos a partir de los datos de la subestructura concuerdan con los valores experimentales.
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