Resumen de Propiedades electrostáticas y de transporte a escala nanométrica: medidas cuantitativas mediante microscopía de fuerzas
1. Introducción La nanociencia es el campo de las ciencias que se encarga del estudio, el diseño, la síntesis, la aplicación y la manipulación de la materia a escala nanométrica, mil millones veces menor que la escala métrica. El término nanotecnología se emplea para referirse a las técnicas que se utilizan en esta escala para desarrollar la nanociencia. Por tanto, hay una estrecha correlación entre ellas, siendo difícil señalar el límite que las separa. La nanociencia abarca casi todas las disciplinas científicas: la física, la química, la ingeniería electrónica o la biología molecular.
Para caracterizar y manipular las nanoestructuras se dispone de distintas herramientas como son la microscopía electrónica SEM (Scanning Electron Microscopy) ó la microscopía de campo cercano SPM (Scanning Probe Microscopy). Dentro de la familia del SPM, también conocida como microscopía de sonda local, se encuentran el microscopio de efecto túnel (STM, Scanning Tunel Microscopy), el microscopio óptico de campo cercano (SNOM, Scanning Near-field Optical Microscopy) y el microscopio de fuerzas (SFM, Scanning Force Microscopy). El funcionamiento común entre ellos es que utilizan una sonda de tamaño nanoscópico para estudiar su interacción con una superficie cercana. El objetivo general es obtener una imagen de la superficie a partir de una magnitud observada: corriente túnel, luz en un campo evanescente o fuerza respectivamente.
La microscopía de fuerzas, SFM, además de ofrecer imágenes de la superficie de la mu
