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Análisis de la métrica en los sistemas de medida láser escáner 3d de medio y largo alcance

  • Autores: Francisco Javier Hernández González
  • Directores de la Tesis: Manuel Pérez Gutiérrez (dir. tes.)
  • Lectura: En la Universidad de Salamanca ( España ) en 2011
  • Idioma: español
  • Tribunal Calificador de la Tesis: José Julio Zancajo Jimeno (presid.), Teresa Mostaza Pérez (secret.), Carmen Madrid de la Fuente (voc.), Mercedes Farjas Abadía (voc.), Juan Carlos Ojeda Manrique (voc.)
  • Materias:
  • Texto completo no disponible (Saber más ...)
  • Resumen
    • español

      RESUMEN La instrumentación topográfica ha experimentado, en los últimos años, avances dirigidos hacia el automatismo en la toma de datos, así como al registro continuo y muy detallado de los objetos. Mediante los escáneres láser se realiza una captura masiva de información, al tiempo que se produce una visualización inmediata y realista de la exploración efectuada, sin poner en duda las prestaciones y precisiones facilitadas por sus fabricantes.

      La investigación que se realiza en esta Tesis, tiene como objetivo determinar las precisiones efectivas que se alcanzan trabajando con escáner láser en un entorno real y exterior, en unas condiciones de observación normales, pero utilizando un marco de referencia controlado que permita realizar su contraste. Para ello se utilizan dos modelos distintos de escáneres, que emplean diferentes sistemas de medición.

    • English

      ABSTRACT In the last years, the surveying instruments have experimented evolutions to automation in data registration as well as very detailed and continuous record of objects. By the laser scanners the maximum amount of information is obtained and immediate and realistic vision is produced, without questioning the performance and precision announced by the manufacturers.

      The objective of this Thesis is to determine the effective precisions that are reached for a job in an outside and open space, real but controlled. Two different scanners are used, each one with a different measure system.


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