Resumen de Perfilometría laser submicrométrica de superficies opticamente pulidas
La metrología de superficies es uno de los campos cientificos y tecnológicos en los que se registra una notable actividad en estos últimos años. Los rapidos avances, tanto en las aplicaciones de nuevos materiales como en la mejora de los procesos de producción, han provocado una mayor exigencia del mercado en relación con las especificaciones de los intrumentos de inspección de superficies y con la automatización de los procesos de verificación y control de calidad.
Los dispositivos de contacto mecanico han sido los principales sistemas perfilometricos que se han estado utilizando durante más de cincuenta años.
De hecho, son los únicos instrumentos para los que existen actualmente normas estandar aprobadas por los comites internacionales de normalizacion.
Sin embargo, estos intrumentos producen una elevada presión sobre la superficie que, en muchos casos, provoca la deformación mecanica o la destrucción de la misma. Además, los perfilómetros de contacto obtienen la información de un perfil de manera secuencial, punto a punto. Por lo que el tiempo de medida suele ser muy elevado. Por estos motivos, la evolución natural de la metrología de superficies se orienta hacia los sistemas sin contacto mecanico.
Además, todos los sistemas que en la actualidad son operativos requieren una gran accesibilidad a la superficie cuyo perfil debe obtenerse y,por consiguiente, no son aplicables para la obtención de perfiles de superficies con geometria complicada, de dificil acceso, con grandes pendientes locales y de reducidas dimensiones como son, por ejemplo, las de las boquillas, los inyectores de combustible o las hileras de diamante. De hecho, uno de los retos que se planteó en el año 1994 al equipo en el que se ha desarrollado este trabajo y que dio lugar al proyecto de esta Tesis, fue la obtención de un sistema con el que fuese posible medir el perfil interior de las mencionadas hileras de diamante.
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