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Metodología para la extracción lineal y no-lineal de modelos circuitales para dispositivos MESFET y HEMT de media-alta potencia

  • Autores: José María Zamanillo Sáinz de la Maza
  • Directores de la Tesis: Angel Mediavilla Sánchez (dir. tes.), Antonio Tazón Puente (dir. tes.)
  • Lectura: En la Universidad de Cantabria ( España ) en 1996
  • Idioma: español
  • UNESCO :
    • 33 Ciencias tecnológicas
      • 3307 Tecnología electrónica
        • 330708 Dispositivos de microondas
      • 3325 Tecnología de las telecomunicaciones
  • Enlaces
  • Resumen
    • En la presente tesis se muestra una nueva metodología de extracción �inteligente� de modelos circuitales lineales y no lineales para dispositivos MESFET y HEMT, además de efectuar numerosas aportaciones en el campo de las medidas radioeléctricas de dichos dispositivos mediante diseño del hardware y del software necesario para la automatización de las mismas. Por otro lado se presenta un novedoso modelo de Gran Señal para dispositivos HEMT de potencia que da cuenta del fenómeno de la compresión de la transconductancia y es fácilmente implementable en simuladores no lineales comerciales del tipo de MDS, LIBRA, HARMONICA, etc. Además se ha aumentado el rango de validez frecuencial de los modelos de pequeña señal mediante la obtención de las expresiones �exactas� de los modelos usuales de pequeña señal Vendelin-Dambrine, Vickes, Berroth & Bosch, etc. Otra novedad aportada por este trabajo de tesis ha sido aplicar estos modelos lineales a los transistores HEMT, evitando la obtención valores carentes de significado físico como ocurría hasta ahora. Como validación del modelo no lineal de HEMT se han llevado a cabo numerosas simulaciones del mismo en MDS que han sido comparadas con las medidas experimentales realizadas en nuestro laboratorio (Scattering, DC, Pulsadas y Pin/Pout) poniendo de manifiesto la exactitud del modelo. Para validar los modelos de pequeña señal se han efectuado simulaciones con el simulador lineal MMICAD utilizando transistores de diferentes tamaños procedentes de distintas foundries con objeto de visualizar el comportamiento del dispositivo independientemente del origen del mismo


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