Charge based testing: a method for nanometer CMOS ICS

• Autores: Bartomeu Alorda Ladaria
• Directores de la Tesis: Jaume Agapit Segura Fuster (dir. tes.)
• Lectura: En la Universitat de les Illes Balears ( España ) en 2005
• Idioma: inglés
• Tribunal Calificador de la Tesis: Joan Figueras Pamies (presid.), José María López Villegas (secret.), Eugeni Garcia Moreno (voc.), Jorge Francisco Suñe Tarruella (voc.), Michel Renovell (voc.)
• Materias:
  • Física
    • Electrónica
      • Circuitos
  • Ciencias tecnológicas
    • Tecnología electrónica
      • Diseño de circuitos
• Texto completo no disponible (Saber más ...)
• Resumen
  • English

    CMOS scaling into the nanometer regime imposes a serious challenge to the effectivity of paramètric test methods based on setting a límit value of the test observable. This thesis explores the merits of the CBT technique based in computing the charge delivered to the circuit from the measured transient current waveform. This work presents a frist approach to CBT establishing its practial aspects and possibilities.

  • català

    L'escalat de la tecnologia CMOS en l'àrea del nanómetre imposa reptes seriosos a l'hora d'aplicar mètodes efectius de test paramètric. Aquesta tesi explora els mèrits de la tècnica anomenada CBT bassada en el còmput de la càrrega consumida per un circuit a partir de la mesura de la forma d'ona del corrent de consum. Aquest treball presenta la primera aproximació a la tècnica CBT establint els aspectes pràctics i les seves possibilitats reals.

    ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------