Aportación al análisis, detección y corrección de errores por perturbaciones internas en circuitos integrados

• Autores: Jose Antonio Sainz Gomez
• Directores de la Tesis: Jorge Francisco Suñe Tarruella (dir. tes.)
• Lectura: En la Universidad del País Vasco - Euskal Herriko Unibertsitatea ( España ) en 1993
• Idioma: español
• Tribunal Calificador de la Tesis: Esteban Azaceta Fernandez (presid.), Juan Carlos Jimeno Cuesta (secret.), Salvador Bracho del Pino (voc.), Armando Roy Yarza (voc.), Carlos Alberto López Barrio (voc.)
• Calificación: Desconocido
• Materias:
  • Ciencias tecnológicas
    • Tecnología electrónica
      • Diseño de circuitos
• Texto completo no disponible (Saber más ...)
• Resumen

  • A MEDIDA QUE SE PRODUCEN AVANCES EN EL DISEÑO DE CIRCUITOS INTEGRADOS LAS DISTANCIAS ENTRE LOS MISMOS DISMINUYEN Y LOS ACOPLAMIENTOS PARASITOS AUMENTAN. EN EL ANALISIS DE LOS ACOPLAMIENTOS SE DEDUCE QUE ES EL ACOPLAMIENTO CAPACITIVO EL QUE PRODUCE MAYORES PERTURBACIONES. SE REALIZA LA CARACTERIZACION DEL CROSSTALK CAPACITIVO Y SE DESARROLLAN MODELOS DE ACOPLAMIENTOS PARASITOS EN UN ENTORNO LOGICO. SE ESTUDIAN TECNICAS DE GENERACION DE VECTORES DE TEST PARA DETECTAR FALLOS DE CROSSTALK CAPACITIVO Y SE INDICAN ALGUNAS ORIENTACIONES REFERENTES AL DISEÑO TOLERANTE, CONCRETANDOSE EN EL EMPLEO DE TECNICAS DIFERENCIALES Y EN EL APANTALLAMIENTO DE LINEAS DE CONEXION.