Diagrama de difracción de familias de materiales con composición flexible: unificación estructural dentro del formalismo superespacial y desarrollo de un difractómetro de haz paralelo
- Autores: Zunbeltz Izaola Azcona
- Directores de la Tesis: Gotzon Madariaga Menéndez (dir. tes.), Luis Elcoro Cengotitabengoa (codir. tes.)
- Lectura: En la Universidad del País Vasco - Euskal Herriko Unibertsitatea ( España ) en 2007
- Idioma: español
- Tribunal Calificador de la Tesis: Juan Manuel Perez Mato (presid.), María Isabel Arriortua Marcaida (secret.), Vaclav Petricek (voc.), Ferenc Mezei (voc.), Gervais Chapuis (voc.)
- Materias:
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- Resumen
Recientemente, se ha comenzado a utilizar el formalismo superespacial para unificar las descripciones de los miembros de familias de estructuras de composición flexible, en un único modelo estructural.
Estas estructuras son familias de compuestos cuya estequiometría depende de una variable que pude tomar valores continuos o cuasicontinuos. En la mayoría de los casos analizados hasta el momento, las estructuras de las fases pertenecientes a cada familia pueden ser descritas a partir del apilamiento de planos atómicos y los distintos miembros de la familia están formados de los mismos tipos de planos atómicos ,pero en distinta proporción y en distinto orden de apilamiento. En general, estos apilamientos dan lugar a estructuras de largo periodo.
Desde el punto de vista experimental, ello implica la necesidad de una gran resolución en los experimentos de difracción para poder determinar las estructuras, puesto que las reflexiones están muy próximas entre sí.
En el transcurso de esta Tesis se han estudiado las familias de compuestos FE1-xS, Sb2nTe3 y Zn1-xPdx para los que se han creado un modelo superespacial que unifica la descripción estructural de todos los miembros de cada familia. Por otro lado, se ha desarrollado una interfaz fráfica para la realización de medidas en un nuevo difractómetor de Rayos-x de alta precisión, diseñado en el dtpo.de Física de la Materia Condensada y construido por TEKNIKER, este difractómetro facilitará el estudio de estructuras de largo periodo.
