Resumen de Control microestructural de cerámicos avanzados sic sinterizados con fase líquida Y2O3-Al2O3
En este estudio se ha llevado a cabo un exhaustivo trabajo de preparación y caracterización microestructural (mediante difracción de Rayos X, SEM y TEM) de cerámicos SIC sinterizados en fase líquida. Se ha realizado un análisis comparativo de diferentes técnicas de análisis cuantitativo en SiC (Método de Rietveld y Métodos polimorficos de RUSKA y TANAKA). Además, se ha llevado a cabo un análisis riguroso de la influencia de las condiciones de partida y de la atmósfera de sinterización en la evolución microestructural subsiguiente. Se ha propuesto un modelo de evolución microestructural que ha sido validado experimentalmente, y que abre la posibilidad del diseño de materiales cerámicos basados en SiC con microestructuras "a la carta" (y, por tanto, con propiedades bien definidas), de gran interés desde el punto de vista de su procesado industrial.
