Métodos de caracterización espectral de la emisión de láseres de semiconductor

• Autores: De Vera Enrique Garcia Vicente
• Lectura: En la Universidad Complutense de Madrid ( España ) en 1990
• Idioma: español
• Tribunal Calificador de la Tesis: Francisco Sánchez Quesada (presid.), Germán González Díaz (secret.), Miguel Angel Muriel Fernandez (voc.), José Luis Escudero Soto (voc.), Javier Pelayo (voc.)
• Materias:
  • Física
    • Óptica
      • Láseres
    • Física del estado sólido
      • Semiconductores
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• Resumen

  • ESTE TRABAJO TIENE COMO OBJETIVO FUNDAMENTAL EL DESARROLLO DE METODOS DE CARACTERIZACION DE LAS PROPIEDADES ESPECTRALES DE LOS LASERES DE SEMICONDUCTOR MAS INTERESANTES PARA LAS APLICACIONES EN COMUNICACION COTERENTES, EN CONCRETO LAS CARACTERISTICAS DE MODULACION EN FRECUENCIA Y LA ANCHURA ESPECTRAL MONOMODO. PARA AQUELLAS SE ESTA DESARROLLADO UN NUEVO METODO DE MEDIDA, BASADO EN UN EFECTO DEBIDO A LA PRESENCIA DE UNA CAVIDAD EXTERNA PASIVA. TAMBIEN SE HA DESARROLLADO UN MODELO TEORICO CAPAZ DE DESCRIBIR ESTE EFECTO.