Propiedades ópticas de láminas delgadas y cristalización de ge(1-x)sbx
- Autores: Juan Manuel del Pozo Páez
- Directores de la Tesis: Luis Díaz Sol (dir. tes.)
- Lectura: En la Universidad Complutense de Madrid ( España ) en 1993
- Idioma: español
- Tribunal Calificador de la Tesis: Juan Manuel Rojo Alaminos (presid.), Ignacio Mártil de la Plaza (secret.), Ramiro Pareja (voc.), Francisco Javier Piqueras de Noriega (voc.)
- Materias:
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- Resumen
EN ESTE TRABAJO SE HA DESARROLLADO UN METODO PARA LA OBTENCION DE LAS CONSTANTES OPTICAS DE LAMINAS DELGADAS QUE PERMITE ADEMAS CALCULAR EL ESPESOR DE LAS MISMAS.
ESTE METODO ESTA BASADO EN MEDIDAS DE REFLECTANCIA Y TRANSMITANCIA A INCIDENCIA NORMAL, Y RESUELVE LOS PROBLEMAS ASOCIADOS A LA RESOLUCION DE LAS ECUACIONES NO LINEALES QUE SE UTILIZAN. ASI MISMO, SE HA ESTUDIADO LA DEPENDENCIA CON EL ESPESOR, DEL GAP OPTICO Y LAS COLAS DE ABSORCION EN LAMINAS DE GE AMORFO, RELACIONANDOLO CON EL CONTENIDO DE VOIDS. POR ULTIMO, SE HA ESTUDIADO LA CINETICA DE CRISTALIZACION DE LAMINAS DE GE(1-X)SBX, CALCULANDOSE LAS ENERGIAS DE ACTIVACION Y LAS TEMPERATURAS DE CRISTALIZACION, ASI COMO LA EVOLUCION DE LAS PROPIEDADES OPTICAS, DURANTE PROCESO. SE PROPONE UN MODELO FENOMENOLOGICO PARA LA CRISTALIZACION DE ESTE MATERIAL.
