Análisis cuantitativo y microestructural en cerámicos avanzados de sic mediante difractometría de rayos x

• Autores: Ángel Hernández Jiménez
• Directores de la Tesis: Ángel Luis Ortiz Seco (dir. tes.), Florentino Sánchez Bajo (codir. tes.)
• Lectura: En la Universidad de Extremadura ( España ) en 2005
• Idioma: español
• Tribunal Calificador de la Tesis: Fernando Guiberteau Cabanillas (presid.), María Pilar Rubio Montero (secret.), Jesús María Rincón López (voc.), José Pérez Pérez (voc.), Antonio Macias Gracia (voc.)
• Materias:
  • Física
    • Electromagnetismo
      • Rayos x
    • Química física
      • Física del estado liquido
  • Ciencias tecnológicas
    • Tecnología de materiales
      • Materiales cerámicos
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