Se han producido láminas de CdTe de alta resistividad por espesores del orden de algunas micras por un proceso de pulverización catódica de radiofrecuencia. Se valora el sistema de producción midiendo los espesores de las láminas producidas por un analizador de perfiles así como las propiedades estructurales (cristalografía) y ópticas. Se analizan las propiedades de conducción eléctrica con excitación tanto en continua como en alterna proponiéndose modelos de comportamiento que explican satisfactoriamente los resultados para ambos casos. Estos modelos se basan en la naturaleza policristalina de la lámina así como en un proceso de difusión del electrodo inferior en el material CdTe durante la pulverización.
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