El trabajo consta esencialmente de 3 partes: obtención de los materiales en lamina delgada mediante sputtering triodo . Las muestras son aleaciones amcrfas fex si1-x o estructuras moduladas en composición fe/si. Caracterización estructural mediante microscopia electrónica de transmisión y difracción de electrones. Variación de la resistividad con la temperatura en las muestras moduladas en composición-determinación de las constantes ópticas del material para ello se ha desarrollado un elipsómetro espectral . El método de medida original permite la obtención de resultados 0 25 mm menor que - menor que -0 95 m - finalmente determinación de las constantes magneto-ópticas del material a partir de los datos de las constantes ópticas y las medidas de efecto magneto-óptico Kerr transversal. Esto permite la caracterización del material para su aplicación directa en mencrias magneto-ópticas.
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