Análisis composicional,superficial y topográfico de superficies híbridas basadas en polioxometalatos de lantánidos soportados en polímeros funcionalizados

• Autores: Saioa Aguado Ureta
• Directores de la Tesis: José Luis Vilas Vilela (dir. tes.), Juan Manuel Gutiérrez-Zorrilla López (codir. tes.)
• Lectura: En la Universidad del País Vasco - Euskal Herriko Unibertsitatea ( España ) en 2017
• Idioma: español
• Tribunal Calificador de la Tesis: Luis Manuel León Isidro (presid.), Ana Aranzabe García (secret.), Juan Rodriguez Hernandez (voc.)
• Materias:
  • Química
    • Química inorgánica
      • Tierras raras
• Enlaces
  • Tesis en acceso abierto en: ADDI
• Resumen

  • Los compuestos híbridos orgánico-inorgánicos han atraído un creciente interés en las últimas décadas debido a la posibilidad de combinar las características específicas de los diferentes componentes con el fin de obtener materiales con propiedades inusuales que presenten usos en nuevas aplicaciones.

    Esta memoria discute la preparación, caracterización química y caracterización estructural de superficies híbridas orgánico-inorgánicas, formadas por superficies poliméricas funcionalizadas y polioxometalatos sustituidos con lantánido. Al combinar diferentes bloques de construcción se pretende obtener materiales con propiedades y aplicaciones novedosas.

    Como bloque de construcción inorgánico se han utilizado polioxometalatos tipo Keggin, eligiendo los monolacunarios sustituidos con lantánido LnIII(¿-SiW11O39)]5¿ donde Ln es Ce, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Tb, Er, Yb y Lu.

    Como bloque de construcción orgánico se han utilizado superficies poliméricas funcionalizadas soportadas sobre obleas de silicio. Estas superficies tienen como matriz poliestireno donde se han embebido copolímeros dibloque anfifílicos, poliestireno-b-poli(ácido acrílico), que a su vez se han forzado a migrar a la superficie de la matriz usando la técnica de segregación superficial. Las superficies obtenidas se han caracterizado mediante espectroscopía fotoelectrónica de Rayos X (XPS) para el análisis composicional, espectroscopía Raman confocal para el análisis superficial y microscopía de fuerza atómica (AFM) para el análisis topográfico de las muestras.