Se ha desarrollado un nuevo metodo de diseño y analisis de acopladores opticos integrados multimodales (MMI) NxN, que incluye una expresión analitica de la potencia en los puertos de salida de los acopladores. La potencia optica de salida asi obtenida se expresa mediante un desarrollo en serie de Fourier, y por ello se le ha denominado Metodo de Fourier (MEF). Dicho metodo se ha empleado de forma complementaria a los otros métodos de diseño, Teoría de las AutoImágenes TAI y Análisis Modal AM, en el desarrollo de un acoplador MMI 2x2 3dB y un fialtro modal MMI 1x1.
Se ha utilizado la tecnología de semiconductor III-V, InGaAsp/Inp, y el diseño se ha orientado para su aplicación en subsistemas pasivos de redes ópticas entorno a la longitud de onda,=1,55 micrómetros.
Tambien se ha desarrollado un banco para la caracterizacion de circuitos opticos de guíonda y se utilizado para medir las pérdidas de inserción de acopladores MMI 2x2 3dB mediante la técnica Fabry-Perot. El banco de caracterización es modular, flexible y tiene automatizada la captura y el procesado de imágenes de potencia optica recibida; asi como el control de la frente óptica y el alineamiento. Las muestras caracterizadas fueron fabricadas en las salas limpias de Telefónica I+D. A partir de dichas muestras, se ha analizado en detalle la influencia de las guias de acceso bimodo en los acopladores MMI.
El metodo MEF presenta la ventaja de aportar información al proceso de diseño tanto cualitativa como cuantitativa, proporcionando unos resultados aproximados restrictivos.
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