Synchrotron x-ray radiation applied to the study of thin films. The case of la0.7cao.3mno3/srtio3(001)
- Autores: Juan Rubio Zuazo
- Directores de la Tesis: Germán Rafael Castro Castro (dir. tes.)
- Lectura: En la Universidad Autónoma de Madrid ( España ) en 2005
- Idioma: español
- Tribunal Calificador de la Tesis: José Manuel Calleja Pardo (presid.), Leonardo Soriano de Arpe (secret.), Enrique García Michel (voc.), Miguel Andrés Martínez Iranzo (voc.), Federico Soria Gallego (voc.)
- Materias:
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- Resumen
La tesis consta de dos partes independientes las cuales tienen un objetivo común. La primera de ellas trata sobre la implementación de una nueva metodología para el estudio de superficies e intercaras enterradas. Dicha metodología, instalada en la línea española SpLine de radiación sincrotrón en el European Synchrotron Radiation Facility (ESRF), consiste en la combinación simultánea de la técnica de fotoemisión de rayos-X a altas y bajas energías (de Oa 15keV) y la técnica de difracción de rayos-X con ángulo de incidencia rasante.
Esta metodología permite el estudio simultáneo de las propiedades estructurales, composícionales y electrónicas de láminas delgadas de una manera no destructiva.
Para el desarrollo de dicha metodología se ha diseñado y se ha montado un equipo experimental que cumple con los requisitos de ambas técnicas.
Este equipo experimental consta principalmente de tres partes: a) un equipo de ultra-alto vacío en el cual se pueden hacer procesos de crecimiento de peliculas delgadas, experimentos in-situ, experimentos a bajas temperaturas, etc. b) un analizador de electrones capaz de detectar fotoelectrones de alta y baja energía cinética (de Ohasta 15 keV) , y c) un difractómetro sobre el cual se monta el equipo de UHV con el analizador.
Uno de los factores más decisivos en el diseño de dicho sistema experimental estriba en la elección del analizador de electrones. No hay ningún analizador de electrones comercial capaz de detectar fotoelectrones con energía cinética de 15 keV. Los analizadores convencionales trabajan hasta un máximo de 5 keV. Existe algún analizador (el más conocido es el analizador electrostático hemisférico Scienta R4000) que trabaja hasta 12 keV.
El problema fundamental de estos analizadores es que san muy grandes y muy pesados y en nuestro caso necesitamos que el analizador sea i) lo más pequeño posible, para que interfiera lo menos posible con el ángulo sólid
