Estudi per tècniques físiques d'anàlisi (SEM, EDX, SIMS, LAMMA, XRD, i XRF) de microcristalls exògens i endògens i de traces metàl.liques en patologia humana

Información General

• Autores: Josep M. Tura Soteras, J. Rodés, Adolf Traveria Cros, Institut d'Estudis Catalans
• Editores: Institut d'Estudis Catalans
• Año de publicación: 1989
• País: España
• Idioma: catalán
• ISBN: 84-7283-034-9
• Texto completo no disponible (Saber más ...)

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