Periodo de publicación recogido
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Searching for Global Test Costs Optimization in Core-Based Systems
L. Carro, E. Cota, M. Lubaszewski
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 4, 2004, págs. 357-373
A New FPGA for DSP Applications Integrating BIST Capabilities
A. Gonsales, M. Lubaszewski
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 4, 2004, págs. 423-431
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