Periodo de publicación recogido
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Warpage simulation for the reconstituted wafer used in fan-out wafer level packaging
Tz-Cheng Chiu, En-Yu Yeh
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 80, 2018, págs. 14-23
Debonding of graded coatings under in-plane compression
Fazil Erdogan, Tz-Cheng Chiu
International journal of solids and structures, ISSN 0020-7683, Vol. 40, Nº 25, 2003, págs. 7155-7179
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