Periodo de publicación recogido
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A model-based approach for inspection of aeronautical multi-layered structures by eddy currents
Long Thanh Cung, Nam Hoang Nguyen, Pierre Yves Joubert, Eric Vourch, Pascal Larzabal
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 38, Nº 1, 2019, págs. 382-394
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