Won-Ju Cho

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • Effect of microwave annealing on SOI MOSFETs: Post-metal annealing with low thermal budget

    Eun-Ki Hong, Won-Ju Cho

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 80, 2018, págs. 306-311

    • Resumen
    

  • Negative bias illumination stress instability in amorphous InGaZnO thin film transistors with ITO local conducting buried layer

    Sang Min Kim, Min-Soo Kang, Won-Ju Cho, Jong-Tae Park

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 327-332

    • Resumen
    

  • Reliability of amorphous InGaZnO TFTs with ITO local conducting buried layer for BEOL power transistors

    Hyun Jong Kim, Byung Sang Song, Won-Ju Cho, Jong-Tae Park

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 333-337

    • Resumen
    

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