Hyeongsun Hong
Periodo de publicación recogido
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Artículos de revistas
The improvement of HEIP immunity using STI engineering at DRAM
Seunguk Han, Youngyoun Lee, Yongdoo Kim, Jemin Park, Junhee Lim, Satoru Yamada, Hyeongsun Hong, Kyupil Lee, Gyoyoung Jin, Eunseung Jung
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 164-167
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