Periodo de publicación recogido
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A new approach for Total Ionizing Dose effect analysis on Flash-based FPGA
Qiutao Zhang, Sarah Azimi, Germano La Vaccara, Luca Sterpone, Boyang Du
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 58-63
A probe-based SEU detection method for SRAM-based FPGAs
Luca Sterpone, Luca Boragno
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 154-158
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